デンシ ケンビキョウ
電子顕微鏡 / 上田良二編
(実験物理学講座 / 近角聡信[ほか]編 ; 23)
| 出版者 | 東京 : 共立出版 |
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| 出版年 | 1982.9 |
| 大きさ | 445p ; 22cm |
目次
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 請求メモ（学内のみ） | 予約 | |
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4階 集密4B | 420.7/1-23 | 861628550 |
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| 内容注記 | 概説 : 電子光学機器・透過型電子顕微鏡・像と回折図形・電子顕微鏡像の解釈 / 上田良二著 透過型電子顕微鏡の構造と機能 : 電子レンズ・照射系・試料装置と観察装置・電源装置 / 丸勢進著 試料技術と操作法 : 一般的事項と試料支持膜・粉体試料およびレプリカ法・膜状試料・厚い材料からの薄片試料作成・電子顕微鏡の操作と諸量の検定 / 美浜和弘著 電子顕微鏡像の解釈 : 非晶質物体のコントラスト・電子回折の理論・格子欠陥のコントラスト・周期構造の電子顕微鏡像・非弾性散乱電子による結像 / 神谷芳弘著 走査型電子顕微鏡(SEM)と関連装置 : 基本的事項・試料作成法と各種の信号による像・透過型走査電子顕微鏡・X線微量分析計 / 市ノ川竹男著 各章末:文献 電子顕微鏡の本:p435～437 |
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| 本文言語 | 日本語 |
| 著者標目 | 近角, 聡信(1922-) <チカスミ, ソウシン> |
| 分 類 | NDC8:420.72 NDLC:MC61 |
| 件 名 | NDLSH:物理学 -- 実験
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NDLSH:電子顕微鏡 |
| ISBN | 4320030788 |
| 書誌ID | BB00012351 |
| 巻冊次 | ISBN:4320030788 ; PRICE:9500円 |