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デンシ ケンビキョウ
電子顕微鏡 / 上田良二編
(実験物理学講座 / 近角聡信[ほか]編 ; 23)

出版者 東京 : 共立出版
出版年 1982.9
大きさ 445p ; 22cm
目次

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書庫B2和書 420.7/1-23 861628550

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内容注記 概説 : 電子光学機器・透過型電子顕微鏡・像と回折図形・電子顕微鏡像の解釈 / 上田良二著
透過型電子顕微鏡の構造と機能 : 電子レンズ・照射系・試料装置と観察装置・電源装置 / 丸勢進著
試料技術と操作法 : 一般的事項と試料支持膜・粉体試料およびレプリカ法・膜状試料・厚い材料からの薄片試料作成・電子顕微鏡の操作と諸量の検定 / 美浜和弘著
電子顕微鏡像の解釈 : 非晶質物体のコントラスト・電子回折の理論・格子欠陥のコントラスト・周期構造の電子顕微鏡像・非弾性散乱電子による結像 / 神谷芳弘著
走査型電子顕微鏡(SEM)と関連装置 : 基本的事項・試料作成法と各種の信号による像・透過型走査電子顕微鏡・X線微量分析計 / 市ノ川竹男著
各章末:文献
電子顕微鏡の本:p435~437
本文言語 日本語
著者標目 近角, 聡信(1922-) <チカスミ, ソウシン>
分 類 NDC8:420.72
NDLC:MC61
件 名 NDLSH:物理学 -- 実験  全ての件名で検索
NDLSH:電子顕微鏡
ISBN 4320030788
書誌ID BB00012351
巻冊次 ISBN:4320030788 ; PRICE:9500円

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