Some applications of semiconductor x-ray and gamma detectors to nondestructive testing / S.G. Snow
| 出版者 | [Oak Ridge, Tenn.] : the U.S. Energy Research Development Administration |
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| 出版年 | 1975 |
| 大きさ | 8 leaves, [21] leavers of plates : ill. ; 29 cm |
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 請求メモ（学内のみ） | 予約 | |
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書庫外部保存庫 | D539/72-1/3 | 102102050 |
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| 一般注記 | "Y-DA-6254" "Oak Ridge Y-13 plant, Oak Ridge, Tennessee 37830, date issued- March 25, 1975" Printed on one side of the sheet Facsimile |
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| 本文言語 | 英語 |
| 著者標目 | Snow, S. G. |
| 分 類 | DC19:539 |
| 書誌ID | BB03106758 |